JEOL: Neues Schottky-Feldemissionsrasterelektronenmikroskop JSM-IT810 auf dem Markt

JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(President und CEO: Izumi Oi) meldet den Marktauftritt des neuen Schottky-Feldemissionsrasterelektronenmikroskops JSM-IT810 am 28. Juli 2024.
Feldemissionsrasterelektronenmikroskope (FESEM) kommen in der Wissenschaft und Technik vielfach zum Einsatz, beispielsweise in Forschungsinstituten, Hochschulen und der Industrie. Es besteht eine steigende Nachfrage nach einem Instrument, das von der Beobachtung bis hin zur Analyse einfach, genau, schnell und effizient benutzt werden kann.
Das JSM-IT810 fügt mit „Neo Action“ eine automatische Beobachtungs- und Analysefunktion sowie eine automatische Kalibrierfunktion zu dem Modell JSM-IT800 hinzu und ist mit einem elektronenoptischen Kontrollsystem der nächsten Generation, „Neo Engine“, ausgestattet sowie mit dem „SEM Center“ für hochwertige Operabilität, wie etwa Zeromag und EDS-Integration. Dies verbessert nicht nur die Effizienz und Produktivität, sondern behebt auch einen etwaigen Arbeitskräftemangel.

Diese Pressemitteilung enthält multimediale Inhalte. Die vollständige Mitteilung hier ansehen: https://www.businesswire.com/news/home/20240729410047/de/

Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810 (Photo: Business Wire)

Hauptmerkmale

1. Automatische Beobachtungs- und Analysefunktion „Neo Action”
Der Nutzer wählt lediglich die SEM-Bildaufnahmebedingungen und das Sichtfeld, und die SEM-Beobachtung und EDS-Analyse (energiedispersive Röntgenspektroskopie) erfolgen automatisch.
Diese Funktion verbessert die Effizienz von Routineaufgaben, einschließlich Analysen.

2. Automatische Kalibrierfunktion „automatische SEM-Justierung”
Diese Funktion ermöglicht die automatische Ausführung ausgewählter Aufgaben bei der Ausrichtungsjustierung, Vergrößerungseinstellung und EDS-Energiekalibrierung.

3. „Live-Funktion”
Diese Funktion kann Live-3D, Live-Analysen und Live-Map-Aufgaben ausführen. 3D-Bilder lassen sich sofort erstellen, während eine SEM-Beobachtung ausgeführt wird, um Informationen über Ungleichmäßigkeit und Tiefe zu erhalten. Darüber hinaus hilft sie dabei, stets charakteristische Röntgenspektrums- und elementale Abbildungen zu erstellen.

4. EDS-Integration
Beobachtung durch ein SEM und Analyse durch ein EDS sind miteinander integriert. Analysen von Punkt, Fläche und MAP können vom Beobachtungsschirm aus erfolgen. Die Aufnahme von Windowless EDS-Gather-X ermöglicht die Erkennung von Li und Analysen mit hoher Empfindlichkeit und hoher Raumauflösung.

Jährliches Absatzziel

220 Stück/Jahr

Weiterführender Link

Produktinformationen: Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT810.php

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japan
Izumi Oi, President & CEO
(Börsenkürzel: 6951, Tokyo Stock Exchange Prime Market)
www.jeol.com

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